rohs光譜檢測設(shè)備XRF-W8使用手冊

點(diǎn)擊次數(shù)：943 發(fā)布時(shí)間：2019/9/28

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公司名稱：金湖虹潤儀表有限公司型號：生產(chǎn)地址：中國大陸已獲點(diǎn)擊：943 簡單介紹： rohs光譜檢測設(shè)備XRF-W8智能的軟件，可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度；提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可為每家用戶量身定做極佳的有害物質(zhì)檢測和控制方案；融合了一系列光譜處理方法，軟件算法，讓測試結(jié)果更精準(zhǔn)。XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性可根據(jù)用戶要求自行定制測試報(bào)告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求。測試數(shù)據(jù)的分級管理，內(nèi)含管理員及多個(gè)操作員權(quán)限，有利于進(jìn)一步加強(qiáng)測

詳細(xì)內(nèi)容

rohs光譜檢測設(shè)備XRF-W8使用手冊
RoHS檢測儀XRF-W8用途有哪些？

RoHS檢測分析。
貴金屬元素的檢測
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
地礦等資源類的全元素分析

主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
RoHS、無鹵標(biāo)準(zhǔn):Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBB\PBDE溴、 Cr鉻、Cl氯；
RoHS2.0標(biāo)準(zhǔn)：Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBB\PBDE溴、 Cr鉻、DEHP、DBP、BBP、DIBP
EN71標(biāo)準(zhǔn): 八大重金屬-Pb鉛、Cd隔、Hg汞、Cr鉻、As砷、Se硒、Sb銻、Ba鋇；
EN71新標(biāo)準(zhǔn)；重金屬19項(xiàng)（測當(dāng)中的15種元素）；
鍍層厚度：鍍銅、鎳、鉻、銀、金…不銹鋼、銅合金成份分析：銅、鋅、鎳、鉛、錫、鐵、鉻、錳、…

RoHS檢測設(shè)儀XRF-W8的獨(dú)特優(yōu)勢：

1.智能的軟件，可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度；
2提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可為每家用戶量身定做極佳的有害物質(zhì)檢測和控制方案；
3.融合了一系列光譜處理方法，軟件算法，讓測試結(jié)果更精準(zhǔn)。
4.XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性
5.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報(bào)告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求。
6.測試數(shù)據(jù)的分級管理，內(nèi)含管理員及多個(gè)操作員權(quán)限，有利于進(jìn)一步加強(qiáng)測試數(shù)據(jù)的嚴(yán)肅性及質(zhì)量品控的可靠性。
7.可以提供六價(jià)鉻定量測試技術(shù)與附件、鍍層測厚和多元素分析軟件。

1、無需對樣品做前期處理，簡單、方便、快捷地實(shí)現(xiàn)貴重金屬的無損檢測。
2，探測器保護(hù)裝置，能最大限度保護(hù)探測器，延長其使用壽命，降低客戶使用成本。
3、自動(dòng)選擇校準(zhǔn)曲線功能，保證貴金屬測試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。
4、形狀補(bǔ)償功能，能根據(jù)樣品的形狀大小，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)形狀補(bǔ)償。
5、采用高清晰攝像頭對首飾進(jìn)行精確定位。
6、高精度數(shù)字多道采集系統(tǒng)，解決峰道漂移帶來誤差。
7、智能風(fēng)冷實(shí)現(xiàn)儀器冷卻的智能化。
8、集成工業(yè)計(jì)算機(jī)，采用一鍵式操作界面，操作靈活，使用方便，即學(xué)即會(huì)。
9、一鍵式打印功能，輕松實(shí)現(xiàn)測量報(bào)告打印。

該款RoHS檢測儀XRF-W8的相關(guān)參數(shù)：

測試原理：能量色散X射線熒光分析法
最低檢出限：≤1PPM
擴(kuò)展不確定度：≤0.19%
鍍層測量：鍍層厚度范圍<30um
濾光系統(tǒng)：16種復(fù)合濾光片任意組合
探測器：SDD探測器(美國進(jìn)口)
分辨率：129ev±5
軟件：菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計(jì)算
內(nèi)置電容觸摸LED屏：外置22”顯示器
樣品種類：固體、粉末。顆粒、液體
元素測試范圍：從鈉Na-鈾U
測試時(shí)間：30S
高壓器：0～50Kv(進(jìn)口)
溫度：-11～46℃
電壓：100～240V，50/60Hz
最大功率：150W
主體結(jié)構(gòu)：高強(qiáng)度金屬外殼
規(guī)格尺寸：650Wx450Hx350mm
樣品腔尺寸：280x280x200mm
攝像定位系統(tǒng)：800萬高清像素定位系統(tǒng)，靈活精準(zhǔn)定位
重量：33kg

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標(biāo)簽：rohs 光譜檢測設(shè)備 XRF-W8